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Q-400 TCT 桌面DIC - 用于微观热膨胀和翘曲测量
解决方案:
Q-400 TCT系统是针对材料和部件在加热和冷却阶段的三维高度敏感翘曲、热膨胀测量和应变分析而设计的。测量面积从300 mm × 400 mm至2 mm × 3 mm。该系统可在室温300 ℃至-40 ℃范围内进行测量。该系统特别适用于电子元件的热膨胀测量,并成功地用于开发和测试电子应用中复杂材料(各向异性)、元件和结构。
结果:
该系统适用于分析计算和数值计算的实验验证。该系统可以快速确定翘曲、热膨胀系数和热应力的元件,如印刷电路、BGA、倒装芯片等。
优势:
完整的热应力测试系统,对于几乎任何材料的整个测量区域进行非接触式测量。在曲面上提供三维信息,翘曲测量成为可能。
技术参数 | Q-400 TCT |
位移分辨率 | 视场的1/100000(取决于实验设置) |
相机分辨率 | 5 Mpx(可选) |
测量面积 | 300 mm*300 mm至20 mm*20 mm |
操作模式 | 自动、手动、二维、三维等 |
数据格式 | 初始格式为HDF5,数据处理格式:txt 等通用格式 |
数据采集速度 | 取决于相机曝光时间和相机帧速 |
数据分析 | 自动序列分析或各个步骤手动分析 |
加热/冷却台尺寸 | 200 mm*200 mm*50 mm(可根据实际需求定做) |
光源 | LED冷光源 |
加热台参数 |
温度范围:-40℃至300℃; 加热速度:50℃/min 冷却速度:20℃/min 加热功率:200W 液氮冷却 |
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DIC系统 Q-400 TCT 热膨胀测量
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