Q-400 TCT 桌面DIC - 用于微观热膨胀和翘曲测量

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

解决方案:

Q-400 TCT系统是针对材料和部件在加热和冷却阶段的三维高度敏感翘曲、热膨胀测量和应变分析而设计的。测量面积从300 mm × 400 mm至2 mm × 3 mm。该系统可在室温300 ℃至-40 ℃范围内进行测量。该系统特别适用于电子元件的热膨胀测量,并成功地用于开发和测试电子应用中复杂材料(各向异性)、元件和结构。

 

结果:

该系统适用于分析计算和数值计算的实验验证。该系统可以快速确定翘曲、热膨胀系数和热应力的元件,如印刷电路、BGA、倒装芯片等。

 

优势:

完整的热应力测试系统,对于几乎任何材料的整个测量区域进行非接触式测量。在曲面上提供三维信息,翘曲测量成为可能。

 

 

技术参数 Q-400 TCT
位移分辨率 视场的1/100000(取决于实验设置)
相机分辨率 5 Mpx(可选)
测量面积 300 mm*300 mm至20 mm*20 mm
操作模式 自动、手动、二维、三维等
数据格式 初始格式为HDF5,数据处理格式:txt 等通用格式
数据采集速度 取决于相机曝光时间和相机帧速
数据分析 自动序列分析或各个步骤手动分析
加热/冷却台尺寸 200 mm*200 mm*50 mm(可根据实际需求定做)
光源 LED冷光源
加热台参数

温度范围:-40℃至300℃;

加热速度:50℃/min

冷却速度:20℃/min

加热功率:200W

液氮冷却

 

 

 

Q-400 TCT产品资料

 

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DIC系统 Q-400 TCT 热膨胀测量

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