干涉粒子图像粒径测量系统(IPI)

 

干涉粒子图像粒径测量系统(IPI,Interferometric Particle imaging)

 

原理

   两只相机对准片光源的同一区域,它们的视场的一致性经过精确的校准。片光源中的透明(或半透明)粒子从两个所谓的“闪亮点”分别发出反射光和折射光。如果它们成像于CCD相机并以很高的倍率放大,可以看到这些闪亮点。

然而,如果成像平面偏移离开最佳聚焦平面,就可以侦测到从这两个闪亮点所发出光的干涉条纹,如观测大面积区域时。

此时观测到的粒子是一个以干涉模式出现的圆环(类似于杨氏干涉条纹),其干涉条纹之间的间距可以测量,,然后通过已知的间距到粒子大小的转换方程,可以得到粒子直径。这一原理称作Interferometric Particle Imaging,简称IPI

另一相机精确地聚焦于光源。此相机观测大范围区域,所以两个闪亮点看起来合为一点。利用粒子跟踪速度方法(PTV),粒子得以根据他们各自的位置和速度加以区别。

由于对两只相机的普通视场的校准,使得可以精确地确定IPI图象的位置以及粒子的大小。

应用

 

           非稳态分析

           喷射:水,颜料等

            柴油机雾化过程

          结冰过程

            医学应用,如吸入器

           流床分析

            两相流分析


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